DDR Debug Toolkit proporciona herramientas de prueba, depuración y análisis para todo el ciclo de diseño de DDR. Una función única de análisis de DDR proporciona separación automática de ráfagas de lectura y escritura, análisis de fluctuación de datos de ráfagas y parámetros de medición específicos de DDR.DDR Debug Toolkit proporciona herramientas de prueba, depuración y análisis para todo el ciclo de diseño de DDR. Una función única de análisis de DDR proporciona separación automática de ráfagas de lectura y escritura, análisis de fluctuación de datos de ráfagas y parámetros de medición específicos de DDR.
*Principales características*
* Separación de ráfagas de lectura/escritura con solo presionar un botón
* Análisis simultáneo de 4 escenarios de medición diferentes
* Muestre hasta 10 diagramas oculares, incluidas pruebas de máscara y mediciones oculares
* Ejecutar análisis de fluctuación para análisis de causa raíz
* Configuración rápida de medidas específicas de DDR
* Analice regiones específicas de ráfagas con modificadores configurables
* Compatibilidad con DDR2/3/4 y LPDDR2/3
* Elija entre grados de velocidad estándar y personalizados
*aislamiento de ráfagas de lectura/escritura*
El uso de DDR Debug Toolkit para separar automáticamente las ráfagas de lectura y escritura elimina el lento proceso de identificación manual de ráfagas y simplifica el análisis y la validación del rendimiento del sistema DDR.
*Muestra hasta 10 diagramas de ojo simultáneamente*
DDR Debug Toolkit puede crear y mostrar rápidamente hasta 10 diagramas de ojo simultáneamente con solo presionar un botón. La inspección visual y el análisis de los diagramas de ojo uno al lado del otro pueden proporcionar información valiosa sobre el sesgo y el tiempo. La elección de CK o DQS como referencia de temporización proporciona dos ventajas distintas de rendimiento del sistema.
*Análisis de diagrama de ojo*
DDR Debug Toolkit le permite probar DQ, DQS o señales de dirección contra máscaras estándar o definidas a medida. Habilitar el indicador de falla de la máscara identifica automáticamente las violaciones de la máscara. Las mediciones integradas, como la altura de los ojos, el ancho de los ojos y la apertura de los ojos, son importantes para la comprensión cuantitativa del rendimiento del sistema. Las mediciones oculares simultáneas facilitan la comparación del rendimiento en múltiples escenarios de prueba.
*Análisis de fluctuación DDR*
Las señales DDR en ráfagas crean una complejidad y desafíos no deseados para el análisis de datos en serie tradicional y las herramientas de fluctuación, lo que dificulta el análisis de DQ, DQS y señales de dirección. Los parámetros de fluctuación, incluidos Tj, Rj y Dj, se calculan en todos los escenarios de medición de DDR activos. Las pantallas tradicionales como TIE Histogram, TIE Track y Bathtub Curve están disponibles para una comprensión más profunda de la distribución del jitter.
*Parámetros específicos de DDR*
Una caja de herramientas de parámetros específicos de DDR facilita la configuración rápida de mediciones perspicaces para verificación, caracterización y depuración. Se pueden mostrar y analizar hasta 12 mediciones configurables simultáneamente en todos los escenarios de medición activos. Para cada medida, puede ver estadísticas avanzadas como mínimo, máximo, promedio y número de instancias de medida.
*4 escenarios de medición*
A la hora de configurar los escenarios de medida, se puede asignar a cada escenario de forma individual la señal a analizar, aportando así una gran flexibilidad en el análisis. Por ejemplo, es fácil configurar una comparación de rendimiento del sistema entre operaciones de ráfagas de lectura y escritura en múltiples carriles DQ. Se pueden analizar hasta cuatro escenarios de medición simultáneamente, lo que simplifica el proceso de medición y elimina la preocupación de las mediciones asincrónicas.
*Escenario de referencia para prueba de optimización*
Los ingenieros pueden realizar fácilmente pruebas de ajuste y optimización del rendimiento utilizando escenarios de referencia. El usuario puede guardar cualquier escenario de medición en un escenario de referencia y cambiar la configuración para observar cambios en las características de rendimiento. Puede agregar o eliminar mediciones del escenario de referencia en cualquier momento, por lo que no tiene que preocuparse por definir todos los parámetros de análisis al comienzo de su prueba.
*Analizar regiones aisladas de ráfagas*
Un calificador configurable incorporado le permite seleccionar todos los análisis en el DDR Debug Toolkit para incluir o ignorar los primeros bits ‘n’. Esto le dará una comprensión más profunda de cómo se comporta su sistema bajo ciertas condiciones. Por ejemplo, este tipo de análisis se puede usar para obtener conocimiento sobre cómo se está desempeñando el sistema solo desde el preámbulo o en medio de una ráfaga de operación.