Close Menu
    Facebook X (Twitter) Instagram
    Facebook YouTube LinkedIn
    Industry SurferIndustry Surfer
    Inicio - Informe de Outlook de pruebas automatizadas de 2011
    Electrónica

    Informe de Outlook de pruebas automatizadas de 2011

    2 Mins Read Electrónica
    Facebook Twitter Pinterest LinkedIn Tumblr Email
    Share
    Facebook Twitter LinkedIn Pinterest Email

    Detalles del informe Tendencias de prueba y medición de próxima generación que afectan a la industria electrónica

    National Instruments (Nasdaq: NATI) publicó hoy su Informe de panorama de pruebas automatizadas de 2011. El informe comparte los hallazgos de la empresa sobre las tecnologías y metodologías que dan forma a las pruebas y mediciones. Este informe detalla las tendencias que se aplican a numerosas industrias, incluidas la electrónica de consumo, la automotriz, los semiconductores, la industria aeroespacial y de defensa, los dispositivos médicos y las telecomunicaciones. Con los conocimientos de los informes, los ingenieros y gerentes pueden aprovechar las últimas estrategias y mejores prácticas para optimizar cualquier organización de prueba.

    La perspectiva de las pruebas automatizadas de 2011 se basa en los aportes de la investigación académica y de la industria, los foros y encuestas de usuarios, la inteligencia comercial y las revisiones de la junta asesora de clientes. Sobre la base de estos datos, este informe presenta una amplia gama de tendencias de próxima generación para abordar los desafíos comerciales y técnicos en pruebas y mediciones. El informe está organizado en cinco categorías: estrategia comercial, arquitectura, computación, software y E/S. Las tendencias clave discutidas en el informe de 2011 incluyen:

    • Integración de pruebas organizacionales: la integración de pruebas de validación y producción requiere un enfoque en los cambios de estrategia, procesos, personas y tecnología.
    • Pila de software del sistema: un marco de software altamente integrado proporciona una arquitectura de sistema flexible para agregar capacidades de medición y reducir el tiempo de prueba.
    • Computación heterogénea: Los futuros sistemas de prueba requerirán diferentes tipos de nodos de procesamiento para cumplir con las necesidades de análisis y procesamiento cada vez más exigentes.
    • IP a pin: compartir la propiedad intelectual (IP) de la matriz de puertas programables en campo (FPGA) entre el diseño y la prueba reduce significativamente la verificación/validación del diseño, lo que mejora el tiempo de prueba de fabricación y la cobertura de fallas.

    Para ver las perspectivas de las pruebas automatizadas para 2011, los lectores deben visitar: aquí.

    Share. Facebook Twitter Pinterest LinkedIn Tumblr Email

    Entradas relacionadas

    ESD Alliance agrega CEMWorks a la comunidad de miembros

    Renesas Electronics anuncia el sintetizador de ondas milimétricas de banda ancha de mayor rendimiento de la industria

    Microchip amplía familia SiC para mejorar eficiencia, tamaño y fiabilidad.

    Entradas recientes
    ¿Qué es el campo magnético y cómo funciona?
    circuito capacitivo de ca
    circuito inductivo ca
    ¿Cómo probar un diodo? Uso de multímetros analógicos y digitales (DMM)
    Noticias industrial
    ¿Qué es el campo magnético y cómo funciona?
    circuito capacitivo de ca
    circuito inductivo ca
    ¿Cómo probar un diodo? Uso de multímetros analógicos y digitales (DMM)
    Facebook YouTube LinkedIn
    © 2025 Hecho con ♥ desde México

    Type above and press Enter to search. Press Esc to cancel.

    Ir a la versión móvil