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    Compilador SRAM para diseños SoC

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    Compilador SRAM para diseños SoC
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    Los compiladores de memoria SRAM de puerto único y puerto doble ARM están disponibles para una variedad de arquitecturas que admiten una amplia gama de rendimiento para todo tipo de diseños de SoC. Los diseñadores pueden elegir entre SRAM de alta densidad, alta velocidad y baja potencia para optimizar sus diseños en cuanto a velocidad, potencia, área o ambos. El compilador de memoria ARM SRAM está disponible en más de 15 fundiciones diferentes y 65 variantes de proceso de 28nm a 250nm.Los compiladores de memoria SRAM de puerto único y puerto doble ARM están disponibles para una variedad de arquitecturas que admiten una amplia gama de rendimiento para todo tipo de diseños de SoC. Los diseñadores pueden elegir entre SRAM de alta densidad, alta velocidad y baja potencia para optimizar sus diseños en cuanto a velocidad, potencia, área o ambos. El compilador de memoria ARM SRAM está disponible en más de 15 fundiciones diferentes y 65 variantes de proceso de 28nm a 250nm.

    La memoria SRAM es para el almacenamiento temporal de grandes cantidades de información. Disponible en versiones de 1 y 2 puertos Las direcciones IP de memoria ARM SRAM se utilizan normalmente en soluciones de caché L2/L3, búferes temporales o en cualquier lugar donde se necesite una instancia de memoria más grande en un diseño de SoC.

    *característica*
    * Múltiples arquitecturas con compensaciones flexibles de densidad/rendimiento: minimice el área del troquel y reduzca el costo del troquel
    * Múltiples modos de administración de energía con activación de energía y operación de voltaje múltiple: la administración de energía flexible permite costos de empaque más bajos y productos competitivos con mayor duración de la batería.
    * Esquema integral de redundancia: permite la optimización del rendimiento
    * Capacidad de margen flexible: le permite compensar el rendimiento y el rendimiento
    * Tubería integrada opcional: para alto rendimiento
    * Reparación de errores leves: permite la optimización del rendimiento
    * Capacidades de prueba avanzadas: mejore la calidad del producto y minimice las devoluciones de campo
    * Pseudoescaneo:
    – Reduce significativamente el tiempo de prueba y reduce en gran medida el costo total de la prueba del producto
    – La calidad mejorada del producto reduce las fallas de campo

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