Este documento presenta la placa de evaluación NXP AUP1Z04 y describe las características y ventajas de la placa. Proporciona esquemas y resultados de pruebas para las placas y varios paquetes utilizados en el dispositivo 74AUP1Z04. Esta placa de evaluación fácil de usar le permite optimizar diferentes cargas del sistema y evaluar piezas en diferentes condiciones de prueba.
La placa de demostración AUP1Z04 permite probar y evaluar fácilmente el 74AUP1Z04, un controlador X-tal de baja potencia optimizado para su uso en aplicaciones de oscilador de cristal. El 74AUP1Z04 combina las características del 74AUP1GU04 y el 74AUP1G04 y ofrece las ventajas de un tamaño compacto, un bajo consumo de energía y un funcionamiento estable en una amplia gama de frecuencias y temperaturas. El 74AUP1Z04 también integra circuitos de habilitación de salida y resistencias de polarización internas. El circuito de habilitación de salida ahorra energía y las resistencias de polarización internas eliminan la necesidad de resistencias externas. Esto proporciona retroalimentación negativa y establece el punto de polarización de suministro medio para el inversor.
Esta placa admite voltajes de fuente de alimentación de 0,8 V a 3,6 V. Cuando la entrada EN no se usa, se puede conducir a ALTO para activar la entrada X1 y poner el dispositivo en modo desactivado de bajo consumo. La acción del disparador Schmitt en la entrada EN permite que el circuito reduzca los tiempos de subida y bajada de la entrada en todo el rango de VCC.
El 74AUP1Z04 está totalmente especificado para aplicaciones de apagado parcial utilizando I OFF en la salida Y. El circuito I OFF desactiva la salida Y para evitar que el flujo de corriente inversa dañe el dispositivo durante el apagado.
Los valores de C1 y C2 se calculan para que la combinación paralela de C1 y C2 sea igual a la capacitancia de carga recomendada (CL) del cristal como se especifica en la hoja de datos del cristal. Se pueden usar diferentes cristales de frecuencia en la placa sin cambiar C1 y C2 siempre que la capacitancia de carga y la huella sean las mismas. La placa de referencia utiliza el NDK NX5032GA, un cristal de 25 MHz con una capacidad de carga de 8 pF y un tamaño de 5 mm x 3,2 mm. También está disponible una versión alternativa del NX5032GA con el mismo espacio y capacitancia pero con un rango de 8 MHz a 25 MHz.
Para formas de onda limpias, R1 aísla la salida del inversor del cristal para evitar falsas oscilaciones de alta frecuencia. El valor óptimo para R1 depende de la frecuencia de operación y la estabilidad deseada. El valor mínimo de R1 depende de la disipación de potencia recomendada del cristal. Los fabricantes de cristales suelen especificar un valor R1 recomendado en sus hojas de datos. El uso de un valor R1 inferior al valor especificado en la hoja de datos puede provocar una sobrecarga del cristal, lo que puede dañarlo y reducir su vida útil. Se pueden obtener resultados aceptables con un valor R1 aproximadamente igual a la reactancia capacitiva (R1 = XC2), siempre que XC2 sea al menos el valor recomendado por el fabricante.
C2 se combina con R1 para formar un filtro de paso bajo. El valor de C2 se puede ajustar de acuerdo con la frecuencia de corte deseada y el tiempo de inicio. En los amplificadores de baja ganancia, C2 se puede hacer más grande que C1 para aumentar el cambio de fase y facilitar el arranque, pero C1 no permite que la capacitancia de carga introducida en el cristal exceda el valor de CL recomendado por el fabricante. no excede Puede ajustar los valores de R4 y C4 para probar cómo las diferentes cargas afectan la velocidad de borde y la forma del reloj de salida. El pin EN normalmente es derribado por R3 si el puente DISABLE está abierto. Al cerrar el puente DISABLE, se sube el pin EN a VCC, lo que apaga la salida del reloj. Puede aumentar o disminuir el valor de R3 para controlar los tiempos válidos e inválidos del reloj de salida. Un R3 más pequeño permite que el reloj se habilite o deshabilite más rápido.