prólogo
Esta nota de aplicación analiza los resultados obtenidos de las pruebas de dosis total utilizando cuatro variantes de la referencia de voltaje ISL71091SEHxx. El propósito de estas pruebas es proporcionar una evaluación de la dureza de la dosis total y la tasa de dosis y la sensibilidad al sesgo de la pieza. También se añadió a esta prueba un recocido sesgado a alta temperatura para investigar la respuesta de envejecimiento acelerado de las piezas. Las muestras se irradiaron con polarización con todos los pines conectados a tierra a tasas de dosis bajas y altas. Las variantes ISL71091SEHxx son de 100 krad(Si) a una tasa de dosis alta (de 50 a 300 rad(Si)/s), a una tasa de dosis baja (0,01 rad(Si)/s) y a niveles específicos para ambas tasas de dosis. Dureza garantizada.
Las variantes informadas del ISL71091SEHxx incluyen el ISL71091SEH20 (voltaje de salida nominal de 2,048 V), ISL71091SEH33 (voltaje de salida nominal de 3,3 V), ISL71091SEH40 (voltaje de salida nominal de 4,096 V) e ISL71091SEH10 (voltaje de salida nominal de 10,0 V). Estas variantes usan la misma matriz base, el voltaje de salida se selecciona mediante algunos niveles de enmascaramiento durante la fabricación de la oblea y finalmente se ajusta mediante recorte (programación de fusibles) en el nivel de la sonda y el paquete para lograr el voltaje de salida especificado. El paquete contiene solo una matriz de silicio y no tiene componentes pasivos internos o externos discretos (es decir, resistencias o condensadores) utilizados para establecer el voltaje de salida.
El ISL71091SEHxx mostró un buen rendimiento con irradiación de tasa de dosis baja y tasa de dosis alta. Todas las muestras pasaron las especificaciones posteriores a la irradiación en el nivel de dosis total especificado por SMD. Se observa cierta sensibilidad a la tasa de dosis y sensibilidad al sesgo en los parámetros clave de voltaje de salida, y se considera que esta parte tiene una sensibilidad a la tasa de dosis moderadamente baja. También observamos una interesante respuesta de recocido a alta temperatura sesgada en las partes expuestas a ese procedimiento. También explicamos estas respuestas.
descripción de las piezas
Los ISL71091SEHxx son referencias de voltaje de precisión de bajo ruido con un amplio rango de voltaje de suministro de 4,6 V a 30 V (variante de 3,3 V) con cuatro opciones de voltaje de salida seleccionadas por varios niveles de enmascaramiento y recorte en chip. Los ISL71091SEHxx están construidos sobre el proceso de oblea adherida Intersil PR40 que utiliza aislamiento dieléctrico para mejoras significativas en el rendimiento eléctrico y SEE. El ISL71091SEHxx ofrece cuatro opciones de voltaje de salida, que incluyen 2,048 V, 3,3 V, 4,096 V y 10,0 V, y presenta un coeficiente de temperatura de 6 ppm/°C y una excelente regulación de línea y carga. El dispositivo logra un ruido de pico a pico inferior a 5,2 μV (0,1 Hz a 10 Hz, variante de 3,3 V) con una precisión de tensión inicial de ±0,05 % a +25 °C y una precisión de tensión inicial de ±0,25 % sobre la radiación. El dispositivo se ofrece en formatos planos y troqueles herméticos de 8 derivaciones. Las aplicaciones incluyen instrumentación, sistemas de adquisición de datos y detección de tensión y presión para aplicaciones espaciales.
Descripción de la prueba
La prueba de tasa de dosis alta se realizó a una tasa de dosis nominal de 68 rad(Si)/s usando un irradiador Gammacell 220™ 60Co en las instalaciones de Palm Bay, Intersil en Florida. La prueba de tasa de dosis baja se realizó a 0,01 rad(Si)/s utilizando un irradiador panorámico de 60Co de tasa de dosis baja Intersil Palm Bay N40. Se realizó un recocido de polarización a alta temperatura posterior a la irradiación utilizando una cámara de temperatura pequeña ajustada a +100 °C.
La figura 1 muestra la configuración utilizada para la iluminación de polarización. La irradiación a tierra se realizó con el mismo tipo de dispositivo, pero con todos los pines conectados a tierra. También se realizó un recocido de polarización a alta temperatura posterior a la irradiación utilizando esta configuración.
Equipos y procedimientos de caracterización
Todas las pruebas eléctricas se realizaron fuera del irradiador utilizando un equipo de prueba automatizado de producción (ATE) con registro de datos en cada punto de inactividad. Todas las pruebas eléctricas de punto bajo se realizaron a temperatura ambiente. Se utilizaron tres o cuatro unidades de control para cada variante para verificar la reproducibilidad.